数字系统测试与可测性设计资源

这里提供的资源是一本书籍，标题为《Digital system test and testable design》（数字系统测试与可测性设计）。本书详细介绍了数字电路测试和可测性设计的相关内容，旨在帮助读者理解并掌握数字电路测试的理论与实践。

资源描述

本书将测试与数字设计实践相结合，用设计语言阐述测试原理。内容涉及如何利用成熟的RTL（寄存器传输级）设计方法和工具来测试数字电路和设计可测试的电路。

具体来说，本书使用Verilog HDL（硬件描述语言）模型来构建测试，并展示了如何实施故障仿真和测试生成算法。在可测性设计部分，书中描述了多种扫描（scan）和内建自测试（BIST）方法，并使用Verilog测试平台作为虚拟测试器来检查和评估这些可测性方法。

通过Verilog测试平台的评估，本书进一步指导读者如何改进设计中的可测性，从而提升电路测试的效率和效果。

内容概览

• 数字电路测试基础
• RTL级设计与测试
• Verilog HDL模型在测试中的应用
• 故障仿真与测试生成算法
• 扫描方法和内建自测试技术
• 设计可测性评估与改进

本书适合数字电路设计工程师、测试工程师以及相关领域的研究者和学生使用，是一本理论与实践相结合的实用参考书。

使用说明

• 请在合适的硬件和软件环境下阅读此书。
• 为了更好地理解书中的示例和代码，建议读者具备一定的Verilog编程基础。
• 书中的测试平台和代码可适用于实际的电路测试和可测性设计工作中。

感谢您选择使用本资源，希望这本书能对您的学习和工作有所帮助。