【免费下载】 DFT OCC电路结构与实现原理详解

本文档详细介绍了DFT_clk_mux与DFT_clk_chain两个模块在芯片顶层设计中的应用及其协同工作原理。这两个模块是芯片测试中的关键部分，对于确保芯片在制造过程中的质量与功能完整性至关重要。

模块概述

DFT_clk_mux

DFT_clk_mux模块主要插入在OCC（On-Chip Clocking）时钟发生器（通常是PLL，即锁相环）与时钟树之间。该模块的主要功能是为扫描移位和捕获提供时钟控制。

DFT_clk_chain

DFT_clk_chain模块包含控制DFT_clk_mux捕获操作的数据。这两个模块之所以分开设计，是因为DFT_clk_mux中的触发器必须是非扫描的，以便正确切换时钟源；而DFT_clk_chain中的触发器必须位于扫描链上，以便 ATPG（自动测试模式生成）可以控制捕获脉冲。

功能与实现

DFT_clk_mux和DFT_clk_chain共同工作，确保了在芯片测试过程中时钟的灵活控制与数据的准确捕获。以下是它们的实现原理：

• DFT_clk_mux：在扫描测试期间，可以切换时钟源，以适应不同的测试需求。
• DFT_clk_chain：通过控制捕获脉冲，确保DFT_clk_mux在适当的时刻锁定数据。

注意事项

• 确保DFT_clk_mux中的触发器不被扫描，以保证时钟切换的准确性。
• DFT_clk_chain中的触发器必须参与扫描链，以便测试过程中可以控制捕获操作。

通过本文档的介绍，可以更好地理解DFT OCC电路的设计与实现，对于芯片测试工程师来说具有重要的参考价值。