DSP28335片外FLASH读写实验CCS工程

简介

本资源文件提供了一个针对DSP28335芯片的片外FLASH读写实验的CCS工程。该实验程序旨在验证DSP28335芯片对外部FLASH的读写功能，并通过一系列操作确保数据的正确性。

实验内容

1. 写入操作：

   • 程序首先向外部FLASH的地址范围0x200000到0x20FFFF分别写入数据0xAAAA和0x5555。

2. 读取操作：

   • 写入完成后，程序从相同的地址范围读取数据。

3. 数据比较：

   • 读取的数据与写入的数据逐一进行比较，确保每一存储空间的数据一致。
   • 如果所有数据一致，说明外部FLASH的读写操作正确无误。

4. 最终写入：

   • 在确认读写操作正确后，程序将自然数写入外部FLASH。

注意事项

• 在进行实验前，请确保已正确配置CCS开发环境，并连接好DSP28335芯片与外部FLASH。
• 实验过程中，请注意观察程序的运行状态，确保数据写入和读取的正确性。

适用对象

本实验适用于对DSP28335芯片及其外部FLASH读写操作感兴趣的开发者，尤其是嵌入式系统开发人员和电子工程专业的学生。

贡献与反馈

如果您在使用过程中遇到任何问题或有改进建议，欢迎通过GitHub的Issues功能提交反馈。我们非常乐意与您一起完善这个实验工程。