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STDF-Viewer:专业的半导体测试数据可视化工具

2026-02-06 05:38:33作者:董灵辛Dennis

STDF-Viewer是一个免费、快速且功能强大的GUI工具,用于可视化STDF(半导体标准测试数据格式)数据文件。该工具由Noon Chen开发,支持多种STDF文件格式和压缩格式,为半导体测试工程师提供了强大的数据分析能力。

项目概述

STDF-Viewer是一个专门用于分析和可视化半导体测试STDF报告的图形化界面程序。它能够处理STDF V4和V4-2007规范的文件,并支持ZIP、GZ和BZIP压缩格式的STDF文件,无需解压即可直接打开。

核心功能

打开STDF文件

STDF Viewer支持三种打开文件的方式:

  1. 打开软件后点击工具栏的"打开"按钮选择文件
  2. 文件右键选择用STDF Viewer打开(macOS由于pyinstaller的原因暂时不支持)
  3. 将文件直接拖到程序界面上

主界面

合并STDF文件

从V4.0.0版本开始,用户可以通过点击工具栏的"合并"按钮打开合并面板。同一个组里的多个文件最终会合并,且序号为0的文件为第一个文件。

![合并面板](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/merge panel.png?utm_source=gitcode_repo_files)

支持添加多个合并组,组和组之间会进行对比分析。

![合并结果](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/merge result.png?utm_source=gitcode_repo_files)

寻找失效测项

点击工具栏的"标记失效"按钮可以把所有存在失效测项标为红色。如果在"设置"里开启了"搜索低Cpk测项",Cpk低于设定阈值的测项会标为橙色。

失效标记

查看DUT测试信息

DUT测试信息位于"STDF信息" -> "DUT详情"。表格中每行代表一个DUT,失效的DUT会被标为红色。从V4.0.0版本开始,被顶替的DUT会被标为灰色。

![DUT详情](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/dut summary.png?utm_source=gitcode_repo_files)

显示GDR和DTR信息

所有GDR(通用数据记录)和DTR(数据记录文本记录)数据列在"STDF信息" -> "GDR & DTR汇总"中。这两种记录的精确位置不好确定,表中给出了相对于PIR/PRR的位置。

![GDR DTR汇总](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/GDR DTR summary.png?utm_source=gitcode_repo_files)

分析测试数据

STDF文件中所有的测项会显示在"选择测项"中,可以多选。测项的统计信息(Cpk、平均值、方差等)显示在"统计信息"中。

测试原始数据

选择测项后在"STDF信息" -> "数据详情"查看。表格中每行代表一个DUT,每列代表一个测项。

![测试汇总](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/test summary.png?utm_source=gitcode_repo_files)

趋势图

显示测试值随DUT变化的趋势图,横轴为测试值,横轴为所选的head/site包含的所有DUT的序号。鼠标停留到数据点上可以查看详细数据。

![趋势图交互](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/trend interactive.png?utm_source=gitcode_repo_files)

直方图

显示测项的数据分布,纵轴为测试值。

直方图

Bin桶分布

显示HBIN和SBIN桶的分布。"统计信息"为每个Bin编号、名称和百分比,空的Bin自动隐藏。

Bin分布

查看晶圆图

"晶圆图"只会在STDF文件存在晶圆测试信息(WCR、WIR、WRR)的时候开启。"选择晶圆"的第一行是当前文件里失效个数的分布图,每个(X, Y)坐标的数字代表这个失效的DUT的个数。

![堆叠晶圆图](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/wafer stacked.png?utm_source=gitcode_repo_files)

生成Excel报告

程序显示的内容基本上都可以导出到报告里,包括文件详情、DUT详情、趋势图、直方图、Bin桶分布、晶圆图、统计信息、GDR & DTR汇总等。

![报告内容选择](https://raw.gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer/raw/d7c89b6bf0279b3eadb45c02e72e42469207ed80/screenshots/report content selection.png?utm_source=gitcode_repo_files)

安装和编译

使用uv工具

  1. 安装uv工具
  2. 创建虚拟环境:uv venv
  3. 安装以及自动编译:uv sync

手动安装

  1. 安装Python依赖:pip install -r requirements.txtpip install maturin==1.9.4
  2. 编译rust_stdf_helper:进入./deps/rust_stdf_helper目录,运行maturin build -f -r
  3. 安装编译好的rust_stdf_helper轮子文件

项目结构

STDF-Viewer项目的目录结构清晰,包含以下主要部分:

  • build_tools/: 包含项目构建工具的相关文件
  • deps/: 包含项目的依赖库,如rust_stdf_helper
  • fonts/: 包含项目使用的字体文件
  • screenshots/: 包含项目的截图文件
  • STDF-Viewer.py: 项目的主程序入口文件
  • requirements.txt: 项目的Python依赖配置文件

技术特点

  1. 高性能处理: 采用Rust语言编写的核心库,提供快速的数据处理能力
  2. 多格式支持: 支持STDF V4和V4-2007规范,以及多种压缩格式
  3. 交互式可视化: 提供丰富的图表交互功能,支持数据点查看和选择
  4. 灵活的导出功能: 支持将分析结果导出为Excel报告
  5. 跨平台支持: 支持Windows、Linux和macOS操作系统

使用场景

STDF-Viewer适用于以下场景:

  • 半导体测试工程师分析测试数据
  • 质量工程师进行产品良率分析
  • 研发工程师调试测试程序
  • 生产工程师监控测试过程

总结

STDF-Viewer是一个功能强大且易于使用的半导体测试数据分析工具。它提供了丰富的可视化功能和灵活的数据处理能力,帮助工程师更好地理解和分析STDF测试数据。无论是单个文件分析还是多个文件对比,STDF-Viewer都能提供专业级的解决方案。

通过其直观的界面和强大的功能,STDF-Viewer已经成为半导体测试领域不可或缺的工具之一。

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